Surtronic S-116泰勒粗糙度儀可移動式底座

• 更新時間：2021-04-13
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Surtronic S-116泰勒粗糙度儀可移動式底座
通過選擇SurtronicS-100系列的支架和打印機（參照“配件"）能夠得到一-臺*集成的粗糙度測量系統(tǒng)。能夠測量不同類型的零部件，測量結果可以儲存在內部，或者標準USB儲存裝置，以及將測量結果打印出來用于生產(chǎn)的下一個階段或提供給用戶。

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可移動式底座
在機床應用上使用時提供支撐。
編號SA-40

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完美的測量解決方案：
通過選擇SurtronicS-100系列的支架和打印機(參照“配件”)能夠得到一-臺*集成的粗糙度測量系統(tǒng)。能夠測量不同類型的零部件，測量結果可以儲存在內部，或者標準USB儲存裝置，以及將測量結果打印出來用于生產(chǎn)的下一個階段或提供給用戶。

快速可靠的測量

輕輕的按下測量按鈕，在幾分鐘內就能得到一個完整的可追溯的測量結果，包括可在屏幕上顯示的詳細輪廓曲線圖或者自動打印出測量結果，打印機可選。

特殊設計，堅固耐用

整個機身由塑化橡膠包裏。聚脂薄膜保證了觸摸屏的持久耐用性，內部有抗磨損的齒輪和軸承，以及堅固的不銹鋼驅動機構。系統(tǒng)電源是一個3000毫安時的大容量鋰聚合物電池，一 次充電便可進行至少2000次測量。

即開即用

即開即用能夠讓儀器在待機狀態(tài)下1秒即可啟用測量，充滿電后待機能力長達5000個小時。

現(xiàn)場測量

在現(xiàn)場檢測產(chǎn)品磨損和粗糙度的變化，預估產(chǎn)品的壽命。例如，檢測渦輪片表面粗糙度的變化，作為早期缺陷和效率損失的預警信號。

英國泰勒新型Surtronic S-116/128粗糙度參數(shù)剖析才能：

規(guī)范：ISO 4287, ISO 13565-1, ISO 13565-2, ASME 46.1, JIS 0601, N31007
ISO根本：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ISO高檔:Rk, A1, A2, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk
ASME:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他:R3z (Daimler Benz)
ISO初始參數(shù):Pa, Pv, Pp, Pz, Pt, Pq, Psk, Pmr, Pdq, Ppc, PSm, Pz1max