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產(chǎn)品中心
| 品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
電磁測(cè)厚儀DeltaScope FMP30
良好的涂鍍層測(cè)厚儀：
涂鍍層測(cè)厚儀 FMP10 FMP20 FMP30 FMP40新一代手提式儀器和可更換的探頭可以提供無損且高精度的涂鍍層厚度測(cè)量。無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是在來料檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的用戶體驗(yàn)和多樣的選擇來滿足您的需求。由于采用了模塊化設(shè)計(jì)，您可以為您的特殊需求分別選擇儀器和探頭。對(duì)于儀器，您可以根據(jù)您的應(yīng)用從新的FMP家族（參見右側(cè)表格）中選??；對(duì)于探頭，我們?yōu)槟峁┝舜罅扛呔鹊奶筋^，相信一定有一款適合您。
特殊功能：
• 根據(jù)磁感應(yīng)法和（或）電渦流法無損測(cè)量涂鍍層厚度。
• 自動(dòng)識(shí)別探頭和基材。
• 堅(jiān)固的外殼及高對(duì)比度大尺寸圖形顯示器。
• 儀器操作簡(jiǎn)單，具備多種統(tǒng)計(jì)評(píng)估能力。
• USB 接口可以連接計(jì)算機(jī)，F(xiàn)MP30-40 還可以連接打印機(jī)。
• 創(chuàng)新的探頭技術(shù)使得測(cè)量更準(zhǔn)確，測(cè)量范圍更廣。應(yīng)用:
可以測(cè)量鐵材或鋼材上非鐵磁金屬鍍層的厚度，例如：鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑料鍍層。
FMP30和FMP40型儀器比基本款的FMP10和FMP20型儀器擁有更多的功能。例如：可以儲(chǔ)存更多應(yīng)用程式的大內(nèi)存、大量的圖形和統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能等。這樣就能適用于更加廣泛的應(yīng)用、滿足客戶更高的要求。上下限公差的自由輸入可以幫助客戶對(duì)生產(chǎn)過程進(jìn)行更全面的分析和統(tǒng)計(jì)。更多種測(cè)量方式可供選擇，幫助您完成理想的測(cè)量。
儀器功能：
•自動(dòng)識(shí)別探頭
•儀器操作界面友好
• 240x160像素高對(duì)比度大尺寸顯示屏
•開機(jī)后即可測(cè)量
•插入探頭即可測(cè)量
•測(cè)量完成后聲音提示
•通過簡(jiǎn)單的零位修正就能適應(yīng)底材形狀(歸一化)
•校準(zhǔn)簡(jiǎn)便(使用一到兩片箔片)
•針對(duì)罕見材料或者形狀復(fù)雜的產(chǎn)品設(shè)置主校準(zhǔn)模式
•可以調(diào)節(jié)儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間和連續(xù)使用時(shí)間
•儀器狀態(tài)顯示(例如：電量低時(shí)出現(xiàn)的警告信息)
•鍵盤鎖/功能限制模式
•滑蓋保護(hù)鍵盤
•多語言顯示
•測(cè)量結(jié)果的單位可在μm和mils之間切換•外部觸發(fā)測(cè)量（例如：測(cè)量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁）
•使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)（僅限于磁感應(yīng)法）
•USB接口可以連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)
•電池供電和交流電源(可選件)供電
應(yīng)用程式存儲(chǔ)
•可以儲(chǔ)存100個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。
•可以儲(chǔ)存20,000個(gè)讀數(shù)
•可以儲(chǔ)存4,000個(gè)數(shù)據(jù)組
•數(shù)據(jù)組包含日期和時(shí)間信息
•糾正已儲(chǔ)存的讀數(shù)
•應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個(gè)應(yīng)用程式能使用相同的歸一化/校準(zhǔn)信息
•通過電腦計(jì)算機(jī)可以編輯應(yīng)用程式名稱（可選件：MP-Name軟件）
統(tǒng)計(jì)和計(jì)算
•數(shù)據(jù)組統(tǒng)計(jì)值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)值
•測(cè)量數(shù)據(jù)直方圖顯示
•可輸入上下限公差并估算cp和cpk值
•測(cè)量結(jié)果超出公差范圍時(shí)儀器發(fā)出視覺和聲音警告
測(cè)量方式
•連續(xù)測(cè)量模式下，測(cè)量數(shù)據(jù)可在上下限公差范圍內(nèi)模擬顯示
•可使用矩陣測(cè)量模式進(jìn)行大量測(cè)量
•取平均值：只儲(chǔ)存若干個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值
•區(qū)域測(cè)量：提起探頭后才儲(chǔ)存測(cè)量過程中的平均值
•自動(dòng)測(cè)量：無需提起探頭，儀器自動(dòng)獲得數(shù)值
•離奇值控制：儀器可自動(dòng)排除錯(cuò)誤的測(cè)量值
