泰勒表面粗糙度儀Surtronic 25 操作手冊 TAYLOR HOBSON25粗糙度儀是泰勒公司在原來TAYLOR HOBSON 3＋粗糙度儀的基礎上進行改進的一個新產品，該儀器適用于生產現場，可測量多種機加工零件的表面粗糙度，根據選定的測量條件計算相應的參數，在液晶顯示器上清晰地顯示出全部測量參數。

泰勒霍普森白光干涉儀CCI MP 無論哪種零件、無論多快的分析速度，CCI MP均可保證三維面形測量結果的準確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭，可對非常粗糙到非常光滑的所有表面進行細致全面的分析。功能豐富–可隨時用于生產運營或研究項目時刻與研發人員和科學家的專業技術同步發展

泰勒霍普森?Prism Checker光電自準直儀 泰勒.霍普森Ultra系列數字自準直儀在行業中有著高精度和 穩定度的盛譽，它使用了*新的數字技術，能夠提供大量程 （1800 seconds） 范圍內的高精度 （0.2 sec） 和穩定的雙軸測量 系統。

SURTRONIC S-100表面粗糙度儀性能提升 參數選項，以適應您的應用 ●USB連接用于充電，USB存儲或打印 ●測量任何表面，任何高度與附帶的手寫筆電梯 ●防滑V腳是指系統可以在平面或曲面上使用 ●專為持久而設計，耐沖擊的橡膠模制品 ●2000次單次充電測量。

Taylor Hobson Surtronic DUO 精密金屬加工市場和涉及高容差工程產品制造商的其他行業計量系統制造商。 系統包括廣泛的圓度和幾何測量儀器，用于測量圓度，直線度，平行度，圓柱度，同心度和方形度。 表面處理，表格和輪廓分析儀，三維表面紋理分析和便攜式粗糙度測試儀，用于測量多個表面紋理參數。

Talysurf CCI Lite全自動光學3D形貌測量儀 The Talysurf CCI Lite 是一臺良好的光學干涉 儀，它采用了創新的，**的相關相干算法， 去尋找通過光學掃描得到的干涉圖象中的一致 點與相位The Talysurf CCI Lite 對于高精度的3D測量 而言是無價的，通過采用不同的物鏡頭，可 以檢測不同的表面，全自動的工作臺能適應 高水平的靈活應用。